طراحی مدارهای قابل تست در اتوماتای سلولی کوانتومی

امروزه استفاده گسترده ای از تکنولوژی cmos در طراحی و پیاده سازی مدارهای الکترونیکی می شود. به دلیل سرعت چشمگیر افزایش تعداد ترانزیستورها درون تراشه، کاهش ابعاد ترانزیستور ضروری می باشد.اما در این تکنولوژی چنین کاهشی در مقیاس زیرمیکرون به سادگی امکان پذیر نمی باشد.اتوماتای سلولی کوانتومی(qca) روشی جدید جهت طراحی مدارها بوده که قابلیت های فراوانی داشته و در زمینه نانوالکترونیک کارآمد می باشد. در این تکنولوژی? انتقال اطلاعات از طریق اندرکنش سلول های کوانتومی صورت می گیرد. البته مشکلاتی نیز بر سر راه این روش جدید وجود دارد.یکی از این مشکلات نرخ خطای بالای این تکنولوژی می باشد. در این تحقیق انواع نقص هایی که در مدارهای qca باعث ایجاد خطا در خروجی مدار می شود، بررسی می شود. در مرحله اول یک گیت به گونه ای طراحی می شود که در خروجی همیشه دو یک و یک صفر تولید می کند. بنابراین در حالت بدون خطا حاصل اکثریت مقادیر خروجی برابر با یک و مقدار and منطقی برابر با صفراست. در نتیجه در صورت وجود یک خطا در خروجی این مقادیر تغییر کرده حضور خطا مشخص می شود.در مرحله دوم یک جمع کننده طراحی می شود که دارای خاصیت حفظ پریتی می باشد. در این مدار نیز در صورت ایجاد یک خطا در خروجی? پریتی متغیرهای ورودی و خروجی با هم برابر نبوده? با تست مدار حضور خطا مشخص می شود.